ICS 29.140.40 X 55 DB35 福建省地方标准 DB35/T 1455-2014 非接触式识别卡读写机通用规范 Generic specification for contactless identification card reader/writer 2014-08-27发布 2014-12-01实施福建省质量技术监督局发布 DB35/T 1455-2014 I 目次 前言.III1 范围.12 规范性引用文件.13 术语和定义.24 技术要求.24.1 外观与结构.24.2 功能.24.3 性能.34.4 安全.44.5 环境适应性.44.6 电磁兼容性.64.7 可靠性.65 试验方法.65.1 试验环境条件.65.2 外观和结构检查.65.3 功能试验.65.4 性能试验.75.5 安全试验.95.6 环境适应性试验.95.7 电磁兼容性试验.105.8 可靠性试验.116 检验规则.116.1 检验分类.116.2 鉴定检验.126.3 周期检验.126.4 逐批检验.127 标志、包装、运输、贮存.127.1 标志.137.2 包装.137.3 运输.137.4 贮存.138 使用说明书及有关文件.13附录 A（规范性附录）非接触式识别卡读写机测试装置.14附录 B（规范性附录）非接触式识别卡读写机检查程序的规定.26DB35/T 1455-2014 II 附录 C（规范性附录）非接触式识别卡读写机数据安全要求的规定.27附录 D（规范性附录）非接触式识别卡读写机安全认证的规定.28附录 E（规范性附录）故障分类及判据.29 DB35/T 1455-2014 III 前言 本标准按照GB/T 1.12009标准化工作导则 第1部分：标准的结构和编写给出的规则起草。本标准由福建省经济和信息化委员会提出并归口。本标准起草单位：福建省电子产品监督检验所、福建联迪商用设备有限公司、福建实达电脑设备有限公司、福建新大陆支付技术有限公司、福建星网锐捷通讯股份有限公司、福建升腾资讯有限公司。本标准主要起草人：陈学新、黄克文、池鸿铭、黄建新、陈伟、王锦星、郑淼。DB35/T 1455-2014 1 非接触式识别卡读写机通用规范 1 范围 本标准规定了工作于13.56 MHz频率的非接触式识别卡读写机的术语和定义、技术要求、试验方法和检验规则，以及标志、包装、运输、贮存和使用说明书的要求。本标准适用于工作频率为13.56 MHz的手持式、台式、内置或外置等工作模式的非接触式识别卡读写机，包括读写功能或者仅有读功能的读写机（以下统称“读写机”或“产品”）。2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T 191 包装储运图示标志 GB/T 1988 信息技术 信息交换用七位编码字符集 GB/T 2423.1 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验 A：低温 GB/T 2423.2 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验 B：高温 GB/T 2423.3 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验 Ca：恒定湿热试验 GB/T 2423.5 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验 Ea 和导则：冲击 GB/T 2423.6 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验 Eb 和导则：碰撞 GB/T 2423.8 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验 Ed：自由跌落 GB/T 2423.10 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验 Fc：振动（正弦）GB/T 2828.1 计数抽样检验程序 第1部分：按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划 GB 4943.1 信息技术设备 安全 第1部分：通用要求 GB 5007.1 信息技术 汉字编码字符集（基本集）24 点阵字型 GB 5007.2 信息技术 汉字编码字符集（辅助集）24 点阵字型 宋体 GB/T 5080.7 设备可靠性试验 恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案 GB 5199 信息技术 汉字编码字符集（基本集）1516点阵字型 GB/T 5271.14 信息技术 词汇 第14部分：可靠性、可维护性与可用性 GB 9254 信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法 GB/T 9969 工业产品使用说明书 总则 GB/T 14916 识别卡 物理特性 GB/T 17618 信息技术设备抗扰度限值和测量方法 GB 17698 信息技术 通用多八位编码字符集（CJK统一汉字）1516 点阵字型 GB 18030 信息技术 中文编码字符集 GB 18455 包装回收标志 GB/T 26572 电子电气产品中限用物质的限量要求 ISO/IEC 14443-1 识别卡 非接触式集成电路卡 感应卡 第1部分：物理特性(Identification cards-Contactless integrated circuit cards-Proximity cards-Part 1:Physical characteristics)DB35/T 1455-2014 2 ISO/IEC 14443-2 识别卡 非接触式集成电路卡 感应卡 第2部分：射频功率和信号接口(Identification cards-Contactless integrated circuit cards-Proximity cards-Part 2:Radio frequency power and signal interface)ISO/IEC 14443-3 识别卡 非接触式集成电路卡 感应卡 第3部分：初始化与防撞击(Identification cards-Contactless integrated circuit cards-Proximity cards-Part 3:Initialization and anticollision)ISO/IEC 14443-4 识别卡 非接触式集成电路卡 感应卡 第4部分：传输协议(Identification cards-Contactless integrated circuit cards-Proximity cards-Part 4:Transmission protocol second edition)3 术语和定义 ISO/IEC 14443-1、ISO/IEC 14443-2、ISO/IEC 14443-3和ISO/IEC 14443-4定义的术语和下列术语适用本标准。3.1 非接触式识别卡Contactless identification cards 指无触点的接近式感应集成电路识别卡（Contactless integrated circuit identification cards 以下简称IC识别卡）。一种符合ISO/IEC 14443-1、ISO/IEC 14443-2、ISO/IEC 14443-3和ISO/IEC 14443-4和GB/T 14916标准规定的ID-1型卡，卡上已装入集成电路和耦合电路，能够实现能量耦合及数据交换功能，支持多卡同时操作，具备初始化和防冲突算法协议。3.2 非接触式识别卡读写机Contactless identification cards reader/writer 指各类无触点的接近式感应集成电路识别卡读写机（Contactless integrated circuit identification cards reader/writer 以下简称读写机）。用电感耦合给IC识别卡提供能量，并控制与IC识别卡数据交换的读/写设备。按其结构可分为手持式、台式、内置或外置（宿主机为微机）式等。4 技术要求 4.1 外观与结构 产品表面涂覆层应均匀，不应起泡、龟裂、脱落及明显的破损、划痕、变形和污染等。零部件连接应紧固无松动。开关、按键应操作灵活可靠。产品表面标示的商标、名称、型号和文字要清晰端正。4.2 功能 4.2.1 读写功能 读写机应具有：a）读取IC识别卡芯片中数据的功能；DB35/T 1455-2014 3 b）写入IC识别卡芯片中数据的功能；c）读取和写入IC识别卡芯片中数据的功能。4.2.2 字符及输出 产品应能处理GB/T 1988、GB 18030中规定的部分或全部字符。产品中显示或打印输出应采用以下一种或几种字型：a)GB 5007.1、GB 5007.2规定的24点阵字型；b)GB/T 5199和GB 17698规定的1516 点阵字型；c)其它标准规定的1415、1314、1112点阵字型。产品中不应采用低于1112的点阵字型。4.2.3 键盘 读写机应按功能要求设置必要的机械或电子（触摸屏幕）工作键，每个键表示的名称或功能均可由程序进行定义。4.2.4 感应区 读写机天线感应区要有明显的感应区域标识，区域中心位置应易于识别。4.2.5 存储器 存储器容量大小在产品标准中规定。存储信息应能保存十年以上。4.2.6 通信接口 应具备有线和/或无线通信接口，实现数据传输功能。4.2.7 脱机工作能力 具有脱机工作能力的产品，在脱机工作方式下，从IC识别卡读取的信息存于机内存储器中，也能将有关信息写入IC识别卡中。管理信息的加载和信息的回收可以采用管理卡，也可以采用其他方式。4.2.8 数据安全 读写机数据应区分通用数据和敏感数据。4.2.8.1 通用数据包括时间、读写机识别号及应用记录等。外界可以对这些数据进行访问，但不允许进行未经授权的修改。4.2.8.2 敏感数据包括密钥、应用程序的内部参数等。不允许外界未经授权对这类数据进行访问或修改。敏感数据应采用加密传输。4.2.9 安全认证 读写机认证功能的实现以及认证算法和密钥的安全性应符合相关标准的安全规定要求。4.3 性能 4.3.1 工作频率 读写机天线未调制信号工作频率（fc）为13.56 MHz7 kHz。DB35/T 1455-2014 4 4.3.2 相互确认时间 从IC识别卡感应到位至读写机与卡完成相互确认的时间应0.5 s。4.3.3 相互确认距离 读写机与IC识别卡相互确认的最大距离应不小于5 cm；在特殊应用场合，读写机受产品大小和使用环境限制的情况下，相互确认距离由产品标准规定。4.3.4 工作磁场强度 4.3.4.1 读写机最大未调制工作磁场强度 Hmax应7.5 A/m（rms）。4.3.4.2 读写机天线表面法线方向 5 cm（或生产厂家声明的位置）范围内任意点，最小未调制工作磁场强度 Hmin 应1.5 A/m（rms）。4.3.5 读写机的调制模式 4.3.5.1 传输速率 读写机传送到IC识别卡的数据传输速率应106 kbit/s。4.3.5.2 数据位调制 Type A和Type B定义及调制波形应符合ISO/IEC 14443-2规定。Type A采用ASK 100%调幅方式；Type B采用ASK 10%调幅方式；调制系数应在9%到13%之间。4.3.5.3 数据位的表示与编码 Type A数据位编码格式是带有如下定义的逻辑电平的 Modified Miller（改进的米勒编码）：逻辑“1”：载波场高幅度（未调制）；逻辑“0”：载波场低幅度。Type B数据位编码格式是带有如下定义的逻辑电平的 NRZ-L（非归零电平编码）：逻辑“1”：载波场高幅度（未调制）；逻辑“0”：载波场低幅度。4.3.6 读写机的负载调制接收 读写机应能正确接收到IC识别卡负载调制。4.3.7 电源适应能力 由直流电源供电时，当电压偏差在标称值5%范围内时，产品工作应正常。当经交流变换器供电时，交流电压偏差在标称值10%范围内时，产品工作应正常。产品还应有掉电、过流、过压短路、极性反接等保护措施。当电压恢复正常时，能自动恢复正常工作状态。4.4 安全 读写机安全要求应符合GB 4943.1中信息技术设备的规定。4.5 环境适应性 4.5.1 气候环境适应性 DB35/T 1455-2014 5 读写机气候环境适应性分二级，由产品标准规定严酷等级，应符合表1的规定。表1 气候环境适应性 气候条件 一级 二级 工作 040-2055 温度（）贮存运输-4060 工作 2090 相对湿度（%）贮存运输 2093（40）大气压力（kPa）86106 4.5.2 机械环境适应性 读写机机械环境适应性应符合表2表5的规定。表2 振动适应性 项 目 分 项 参 数 频率范围（Hz）535 扫频速度（oct/min）1 初始和最后振动响应检查 驱动振幅（mm）0.15 驱动振幅（mm）0.15 定频耐久试验 持续时间（min）10 频率范围（Hz）5355 位移幅值（mm）0.15 扫频速率（oct/min）1 扫频耐久试验 循环次数（次）2 注：表中驱动振幅为峰值。表3 冲击适应性 峰值加速度（m/s2）波形持续时间（ms）冲击次数 冲击波形 150 11 200 半正弦波或后峰锯齿波或梯形波 DB35/T 1455-2014 6 表4 碰撞适应性 峰值加速度（m/s2）波形持续时间（ms）碰撞次数（次）碰撞波形 50 16 1000 半正弦波 表5 运输包装件跌落适应性 包装件质量（kg）跌落高度（mm）10 1000 1020 800 4.6 电磁兼容性 4.6.1 无线电骚扰 读写机的无线电骚扰限值应符合GB 9254中相应级别（A级或B级）规定要求，在产品标准中规定产品执行的具体级别。4.6.2 抗扰度 读写机的抗扰度限值应符合GB/T 17618中性能判据B的要求。4.7 可靠性 采用平均无故障工作时间（MTBF）衡量读写机的可靠性水平。读写机的平均无故障工作时间（MTBF）的不可接受值m1应不低于5000 h（按键除外）。机械式按键的使用寿命应不低于5105 次；触摸屏式虚拟按键的使用寿命由产品标准规定。5 试验方法 5.1 试验环境条件 本标准中除气候环境试验、可靠性试验和抗电强度试验以外，其他试验均在下述正常大气条件下进行：温 度：15 35；相对湿度：45%75%；大气压力：86 kPa106 kPa。5.2 外观和结构检查 目测和手动检查读写机外观和结构，应符合4.1的要求。5.3 功能试验 利用生产厂商提供的检查程序（具体规定见附录B）进行以下各项测试，测试用卡必须符合ISO/IEC 14443-1、ISO/IEC 14443-2、ISO/IEC 14443-3和ISO/IEC 14443-4的相关规定。DB35/T 1455-2014 7 5.3.1 读写功能试验 读取、写入或读取写入IC卡芯片中的数据。5.3.2 字符及输出检查 将本系统发行的IC识别卡置于被测读写机感应区，通过预先加载进读写机存储器中的检查程序，并配合键盘检查字符及输出功能。5.3.3 键盘检查 将本系统发行的IC识别卡置于被测读写机感应区，使读写机工作，然后按触各个工作键，检查是否实现相应的功能。通过运行检查程序，检查每个对应键位是否可由程序定义。5.3.4 感应区检查 目测检查。5.3.5 存储器检查 存储容量检查可在存储器的首地址和未地址分别写入随机数，然后读出，检查是否与写入随机数一致；保存信息检查应在加载信息后，断掉工作电源，1 min后，重新加电，信息不丢失。5.3.6 通信接口检查 将读写机通信接口联接计算机，借助系统软件的支持，在计算机上给读写机加载信息，检查该读写机接收情况，应正确无误；然后在计算机上发回收命令回收该读写机的数据，检查回收数据情况应正确无误。5.3.7 脱机工作能力检查 让读写机脱机工作，然后用管理卡或其他方式加载信息，检查加载的信息并进行相应的操作应正确无误；再用管理卡或其他方式从该读写机回收信息，然后将回收的信息从计算机上读出检查应正确无误。5.3.8 数据安全检查 5.3.8.1 按附录C规定要求检查。5.3.8.2 读写机通用数据检查是通过读写机键盘或联接计算机检查，读写机的通用数据应能访问，但不能在未经授权下修改。5.3.8.3 敏感数据检查是通过读写机键盘或联接计算机检查，读写机敏感数据在未经授权下不能实现访问或修改。5.3.8.4 检查敏感数据采用系统规定的加密算法进行传输。5.3.9 安全认证检查 按附录D规定要求，生产厂家在产品标准中规定读写机安全认证功能的检查方法。5.4 性能试验 测试装置按附录A规定要求。DB35/T 1455-2014 8 5.4.1 工作频率测试 将频率计或示波器连接到校准线圈，将校准线圈放置在读写机天线上方，读写机只发出载波信号，在频率计或示波器上观察到的校准线圈感应电压的频率应符合4.3.1的要求。5.4.2 相互确认时间测试 将本系统发行的IC识别卡置于被测读写机感应区规定位置里，感应天线50 cm范围内不应有金属物，运行检查程序，读写机可以接收到正确信号的最短时间即认为是读写机的确认时间。重复5次以上操作，计算平均值应符合4.3.2的规定。5.4.3 相互确认距离测试 将本系统发行的IC识别卡置于被测读写机感应区规定位置里，感应天线50 cm范围内不应有金属物，运行检查程序，读写机可以接收到正确信号的最大距离即认为是读写机的读写距离。重复5次以上操作，计算平均值应符合4.3.3的规定。5.4.4 工作磁场强度测试 5.4.4.1 读写机天线表面工作磁场强度 Hmax 测试步骤 5.4.4.1.1 按附录 A 4.3.6 步骤 a）至 g）所述，将参考 PICC的谐振频率调至 19 MHz。5.4.4.1.2 将测试 PCD装置设置为产生 Hmax 的工作状态，参考 PICC 放置在测试 PCD装置的 DUT位置，切换跳线 J1到位置 b（见图 A.13），通过调节 R2校准参考 PICC,使CON3 端子上的直流电压 VDC=3 V。5.4.4.1.3 将参考 PICC放置在被测 PCD 定义的工作区内。5.4.4.1.4 用高阻抗电压表测量参考 PICC 上 CON3 端子的直流电压 VDC应不超过3 V。5.4.4.2 读写机天线表面工作磁场强度 Hmin 测试步骤 5.4.4.2.1 按附录 A 4.3.6 步骤 a）至 g）所述，将参考 PICC的谐振频率调至 13.56 MHz。5.4.4.2.2 将测试 PCD装置设置为产生 Hmin 的工作状态，参考 PICC 放置在测试 PCD装置的 DUT位置，切换跳线 J1到位置 b（见图 A.13），通过调节 R2校准参考 PICC,使CON3 端子上的直流电压 VDC=3 V。5.4.4.2.3 将参考 PICC放置在被测 PCD 定义的工作区内。5.4.4.2.4 用高阻抗电压表测量参考 PICC 上 CON3 端子的直流电压 VDC应超过 3 V。5.4.5 读写机的调制模式测试 5.4.5.1 传输速率和数据位的编码测试 运行生产厂商提供的检查程序发送特定数据串，通过校准线圈在存储示波器上储存天线输出波形，计算天线输出数据传输速率、编码方式，应符合4.3.5.1和4.3.5.3的规定。5.4.5.2 调制方式、调制系数测试 利用存储示波器储存天线输出波形，其调制方式、调制系数应符合4.3.5.2的规定。5.4.6 读写机的负载调制接收测试 5.4.6.1 按附录 A 4.3.6 步骤a）至g）所述，将参考 PICC 的谐振频率调至 13.56 MHz，并将跳线开关 J1 切换到c 位置（见图 A.13）。DB35/T 1455-2014 9 5.4.6.2 测试 PCD 装置设置为产生 Hmin 的工作状态，将参考 PICC 放置在测试 PCD 装置的 DUT 位置，记录 CON3 的直流电压值。5.4.6.3 将参考 PICC 放置在被测 PCD 定义的工作区内。5.4.6.4 在CON1 输入符合 4.3.5 规定的调制信号，调节输入信号幅度直到 CON3 获得的直流电压与上述 b）相同。5.4.6.5 PCD 应能连续地接收到参考 PICC 发出的调制信号。5.4.7 电源适应能力试验 5.4.7.1 直流电源供电时，调节供电电压使其偏离标称值5%，读写机应工作正常。调节供电电压使其偏离标称值10%，恢复正常值后，运行生产厂商提供的检查程序，读写机应工作正常。5.4.7.2 经电源变换器由交流电源供电时，按表 6 的各种组合对产品进行试验。每种组合运行一遍检查程序，读写机应工作正常。5.4.7.3 将电源（电池）极性反接，再恢复正常，运行生产厂商提供的检查程序，读写机应工作正常。表6 交流电源适应能力 标称值组合 电压（V）频率（Hz）1 220 50 2 198 49 3 198 51 4 242 49 5 242 51 5.5 安全试验 按 GB 4943.1的相关规定进行。5.6 环境适应性试验 以下各项试验应进行初始检查和最后检查，初始检查和最后检查统一按5.2进行外观和结构检查，并运行生产厂商提供的检查程序（见附录B），试验结束后受试读写机应能正常工作。5.6.1 温度下限试验 为防止试验中受试读写机结霜和凝露，允许将受试读写机用聚乙烯薄膜密封后进行试验，必要时还可以在密封套内装吸潮剂。5.6.1.1 工作温度下限试验 按GB/T 2423.1试验Ad进行。按表1规定的工作温度下限值的要求。加电运行检查程序2 h，受试读写机应工作正常。恢复时间为2 h。DB35/T 1455-2014 10 5.6.1.2 贮存运输温度下限试验 按GB/T 2423.1试验Ab进行。按表1规定的贮存运输温度下限值的要求，受试读写机在不工作条件下存放16 h。恢复时间为2 h，再进行检测应能正常工作。5.6.2 温度上限试验 5.6.2.1 工作温度上限试验 按GB/T 2423.2试验Bd进行。按表1规定的工作温度上限值的要求。加电运行检查程序2 h，受试读写机应工作正常。恢复时间为2 h。5.6.2.2 贮存运输温度上限试验 按GB/T 2423.2试验Bb进行。按表1规定的贮存运输温度上限值的要求。受试读写机在不工作条件下存放16 h。恢复时间为2 h，再进行检测应能正常工作。5.6.3 恒定湿热试验 5.6.3.1 工作条件下恒定湿热试验 按照GB/T 2423.3试验Ca进行。按表1规定的工作温度、湿热上限值的要求，加电运行检查程序2 h，受试读写机应工作正常。恢复时间为2 h。5.6.3.2 贮存运输条件下恒定湿热试验 按照GB/T 2423.3试验Ca进行。按表1规定的贮存运输温度、湿热上限值的要求，在不工作条件下存放48 h，然后恢复到通常工作条件，恢复时间为2 h，再进行检测应能正常工作。5.6.4 振动试验 按GB/T 2423.10试验Fc进行，试验严酷等级见表2。5.6.5 冲击试验 按GB/T 2423.5试验Ea进行，试验严酷等级见表3。5.6.6 碰撞试验 按GB/T 2423.6试验Eb进行，试验严酷等级见表4。5.6.7 包装跌落 按GB/T 2423.8试验Ed进行，试验严酷等级见表5。5.7 电磁兼容性试验 5.7.1 无线电骚扰试验 按GB 9254规定的方法进行。5.7.2 抗扰度试验 按GB/T 17618 规定的方法进行。DB35/T 1455-2014 11 5.8 可靠性试验 5.8.1 试验条件 本标准规定的可靠性试验目的为确定产品在正常使用条件下的可靠性水平，试验周期内综合应力规定如下：a)电应力：受试样品在输入电压标称值的5%变化的范围内工作（交流供电时电压变化为 10%）。一个周期内各种条件工作时间的分配为：电压上限 25%，标称值 50%，电压下限 25%；b)温度应力：受试样品在一个周期内由正常温度（具体值由产品标准规定）升至表 1 规定的温度上限值再回到正常温度。温度变化率的平均值为 0.7/min1/min 或根据受试样品的特殊要求选用其他值。在一个周期内保持在上限和正常温度的持续时间之比应为 1:1 左右；一个周期称为一次循环，在总试验期间内循环次数不应小3次。每个周期的持续时间应不大于0.2 m0,电应力和温度应力同时施加。5.8.2 试验方案 可靠性试验按GB/T 5080.7进行，试验方案由产品标准规定。在整个试验过程中应运行检查程序，故障的判据和计入方法按附录E的规定，只统计关联故障数。5.8.3 试验时间 试验时间应持续到总试验时间及总故障数均能按选定的试验方案作出接收或拒收判决截止。多台受试样品试验时，每台受试样品的试验时间不得少于所有受试样品的平均试验时间的一半。机械或电子（触摸屏）按键的寿命试验方法在产品标准中规定。6 检验规则 6.1 检验分类 产品检验分为鉴定检验、周期检验和逐批检验。检验项目按表7的规定。表7 检验项目 检验类别 序号 检验项目 鉴定检验 周期检验 逐批检验 要 求 试验方法 1 外观和结构 按 4.1 按 5.2 2 功能 按 4.2 按 5.3 3 性能 按 4.3 按 5.4 4 安全*按 4.4 按 5.5 5 环境适应性 按 4.5 按 5.6 6 电磁兼容 按 4.6 按 5.7 DB35/T 1455-2014 12 表 7（续）检验类别 序号 检验项目 鉴定检验 周期检验 逐批检验 要 求 试验方法 7 可靠性 按 4.7 按 5.8 注1：表示应检验的项目。注2：表示不检验的项目。注3：*在逐批检验中安全只做抗电强度及对地泄漏电流试验。6.2 鉴定检验 6.2.1 读写机产品定型应进行鉴定检验。当主要设计、工艺及关键元器件、原材料发生改变时，应进行鉴定检验。6.2.2 鉴定检验样品应在生产合格的读写机产品中随机抽取。除可靠性检验外，其余项目的受试样品数为 2 台。6.2.3 鉴定检验项目，除可靠性检验外其余检验项目的故障处理方法如下：检验中发现不合格项目，应进行原因分析并整改，并重新进行针对性的试验验证；验证结论通过后，再次送检，直到检验全部通过。6.2.4 鉴定检验由读写机产品生产厂商质量部门或上级主管部门指定或委托的质量检验部门负责进行。6.2.5 检验后要提交鉴定检验报告。6.3 周期检验 6.3.1 批量生产的产品，一般每批均应进行周期检验；连续生产的产品，每年应至少进行一次周期检验。6.3.2 周期检验由产品生产厂商质量检查部门或上级主管部门指定的质量检验单位负责进行。根据订货方的要求，产品生产厂商应提供近期周期检验报告。6.3.3 周期检验的样品应在逐批检验合格产品中随机抽取，样品数为 2 台。6.3.4 周期检验中，出现故障或任一项通不过时，应查明故障原因，提出故障分析报告。经修复后，再顺序做以下各项检验，如再次出现故障或某项通不过，查明故障原因后提出故障分析报告，再经修复后，应重新进行周期检验。在重新进行周期检验中，又出现某一项通不过时，则判该产品通不过周期检验。周期检验中经环境试验的样机，应印有标记，不准作为正品出厂。6.3.5 检验后应提交周期检验报告。6.4 逐批检验 6.4.1 批量生产或连续生产的产品，应进行逐批检验。检验按 GB/T 2828.1 采用计数抽样方式进行。不合格判据、抽样方案、接收质量限与检查水平应在产品标准中具体规定。6.4.2 逐批检验由产品生产厂商的质量检验部门负责进行。DB35/T 1455-2014 13 7 标志、包装、运输、贮存 7.1 标志 产品的标志为生产厂商产品统一注册商标，标示位置由生产厂商自定。每个产品应附有标牌，上面应标志以下内容：a)生产厂商的名称；b)生产厂商的地址；c)产品名称、型号和产品编号。7.2 包装 包装箱外应标有生产厂商名称、地址、产品名称和型号、出厂日期。包装箱内应有装箱清单、产品出厂检验合格证、备附件及有关的随机资料。7.3 运输 运输标志应符合GB/T 191的规定。包装后产品应方便运输，并应避免雨雪或接触有害化学物质，搬运中防止机械损伤。7.4 贮存 产品贮存时应放在原包装箱内，贮存存放产品的包装箱应垫离地面至少15 cm，距离墙壁、热源、冷源、窗口、通气口至少50cm。贮存期一般为6个月，若在生产厂存放期已超过6个月，则应在出厂前重新进行出厂检验。产品仓库的环境温度为-10 40，相对湿度为30%80%，库房内不允许有各种有害气体、易燃、易爆物品及有腐蚀性的化学物品，并应远离强电磁场。8 使用说明书及有关文件 使用说明书的编写应符合GB/T 9969的规定，并应按GB/T 26572和GB 18455的规定标识有毒有害物质含量以及包装回收标志。DB35/T 1455-2014 14 A A 附 录 A（规范性附录）非接触式识别卡读写机测试装置 A.1 名词与缩略语 DUT 被测试的装置 PCD 非接触式IC卡读写机 PICC 非接触式IC识别卡 校准线圈 通过测量线圈两端电压间接测量空间电磁场的装置 参考PICC 经过测试PCD装置标定后用于测定读写机的装置 传感线圈 放置于测试PCD装置内用于抵消空间电磁场的装置 A.2 测试原理 本附录中描述的测试方法是利用电磁场在空间对称的特性，通过测量仪器和测试电路标定非接触IC识别卡的参考PICC，然后利用标定好的参考PICC测定读写机。A.3 测量仪器 读写机的测试及标定参考PICC采用数字存储示波器和信号发生器作为测量仪器。数字存储示波器的取样速率不小于500 M 次/s，分辨率不小于8 bit。示波器应能输出文本文件，以便进行数字处理和其他有关操作。应使用高阻抗示波器探头。校准线圈和引线的共振频率应大于60 MHz。信号发生器可以产生13.56 MHz、19 MHz的正弦波，误差不超过0.05%，输出功率连续可调，最大输出功率不小于2 W，输出阻抗Z=50。A.4 测试电路 A.4.1 校准线圈 A.4.1.1 校准线圈卡的尺寸 校准线圈卡的高度和宽度符合GB/T 14916中ID-1型卡的标准，卡上有一个与卡的轮廓同轴的单匝线圈，如图A1所示。DB35/T 1455-2014 15 图A.1 校准线圈卡 A.4.1.2 校准线圈卡的厚度与材料 校准线圈卡的厚度为：0.76 mm0.076 mm。材料为单面覆铜印制电路板。A.4.1.3 校准线圈的特性 线圈应为单匝，外缘尺寸为：72 mm42 mm，四个圆角的半径为5 mm，尺寸的相对误差为2%(场积分区域面积约为3000 mm2)。线圈是在PCB印制板上制成的厚35 m，宽500 m的铜箔，其相对误差为20%。连接端子的尺寸为1.5 mm1.5 mm。线圈的开路校准系数是0.32 V(rms)每1 A/m（rms)。相当于峰-峰值900 mVpp每1 A/m（rms)。A.4.2 测试PCD装置 A.4.2.1 测试PCD装置的构成 测试PCD装置由一个直径为150 mm的测试PCD天线和两个平行的传感线圈（传感线圈a和传感线圈b）所组成。测试电路如图A.2所示。传感线圈的连接方法应该保证两个线圈中的信号相位相反。当传感线圈没有被PICC或任何磁性耦合电路加载时，用10 的电位器p1微调平衡点。包括寄生电容在内的探头电容性负载应不超过14 pF。探头的接地线应小于20 mm或者同轴连接。DB35/T 1455-2014 16 图A.2 测试 PCD 电路图 A.4.2.2 测试PCD天线 A.4.2.2.1 天线结构 测试PCD天线布局图和匹配网络如图A.3、图A.4 图A.3 测试 PCD 天线及其阻抗匹配网络（正视图）DB35/T 1455-2014 17 天线线圈的印制线宽度为1.8 mm(过孔除外)。从阻抗匹配网络处开始，天线线圈和补偿线圈每隔45换位一次。印制板的厚度为1.6 mm双面敷有35 m的铜箔。图A.4 测试 PCD 天线及其阻抗匹配网络（反视图）A.4.2.2.2 阻抗匹配网络 天线阻抗(Rant，Lant)与信号发生器输出阻抗(Z=50)，电容器C1、C2和C3均有固定的值（见图A.5）。输入阻抗相位可使用可变电容器C4来调整。调节C4使其输出阻抗为（505），相角为（010）。线性低失真可调50功率驱动器应能够发出适宜的信号序列。调制度应在9%13%和95%100%的范围内。调节输出功率使场强达到1.5 A/m(rms)12 A/m(rms)之间，当超过上限7.5 A/m(rms)以上时，则应注意其操作。DB35/T 1455-2014 18 注1：应保证最大电压和最大功耗在各元器件的规定范围内。注2：Rext可以通过并联五个4.7 2 W的电阻构成，Rext也可被放置在标有虚线的位置，当最大场强超过7.5 A/m(rms）时，Rext应采用五个4.7 4 W电阻并联构成。图A.5 阻抗匹配网络 A.4.2.2.3 测试PCD天线调谐 A.4.2.2.3.1 图A.6和图A.7示出了相位调谐规程的步骤，以匹配天线阻抗与驱动发生器阻抗。调谐后的信号发生器将直接连接到天线用于测试。A.4.2.2.3.2 把高精度电阻50 0.5 接入信号发生器输出与天线端子之间。示波器的两个探头分别接到参考电容的两端，当示波器置于X-Y档扫描时，示波器的屏幕上将出现李沙育图形。信号发生器设置于：波形：正弦波 频率：13.56 MHz 振幅：2V(rms)5V(rms)输出端是另一个高精度电阻50 0.5。与参考电阻并联的参考电容Ccal等于示波器探头的寄生电容Cprobe的时候，可以对示波器探头的寄生电容进行补偿。当示波器屏幕上的李沙育图形完全闭合时，表明已经实现了对示波器探头的寄生电容的补偿（见图A.6）。DB35/T 1455-2014 19 图A.6 天线调谐装置 A.4.2.2.3.3 使用A.4.2.2.3.2中相同的设置值，将阻抗匹配电路接到天线的输出端，调谐阻抗匹配网络上的电容C4，当示波器屏幕上的李沙育图形完全闭合时（相位为0），表明阻抗匹配网络已经匹配到信号发生器的输出阻抗(Z=50)（见图A.7）。图A.7 天线调谐装置 A.4.2.3 传感线圈 DB35/T 1455-2014 20 传感线圈的版图结构如图A.8所示。单位为毫米 注1：线圈尺寸是指外沿尺寸。注2：传感线圈印制线宽度为0.5 mm，相对误差为20%，（过孔除外）。注3：印制板(FR4材料)的厚度为1.6 mm，双面敷有35 m的铜箔。图A.8 传感线圈板 a 和b A.4.2.4 测试PCD装置的装配 测试PCD天线平面必须与传感线圈平面平行，天线线圈和传感线圈必须共轴，并且保证天线线圈与两个传感线圈导体之间的距离均为37.5 mm，见图A.9、图A.10。DUT中的线圈、校准线圈到读写机天线的距离相等。DB35/T 1455-2014 21 图A.9 测试 PCD 装置装配图-1 图A.10 测试 PCD 装置装配图-2 A.4.3 参考PICC A.4.3.1 作用 参考PICC用于测量PCD产生的场强(Hmin，Hmax)和调制特性。A.4.3.2 参考PICC的尺寸 DB35/T 1455-2014 22 参考PICC应包含有线圈的区域，该区域具有GB/T 14916中ID-1型卡而定义的高度和宽度。该区域外部的一个区域包含了模拟PICC功能需要的电路，外部区域应该用下面所描述的测试装置来实现，从而对测试不引起干扰。尺寸如图A.11所示。图A.11 参考 PICC 的尺寸 A.4.3.3 参考PICC的厚度 参考PICC的厚度应为0.76 mm土0.076 mm。A.4.3.4 线圈的特性 参考PICC主线圈为4匝，轮廓线对称；线圈外沿的尺寸为72 mm42 mm，相对误差为2%；线圈为在双层PCB印制板上厚35 m的铜箔，导线宽度和导线间隔均为500 m，相对误差为20%。如图A.12所示。DB35/T 1455-2014 23 图A.12 参考 PICC 布线图 A.4.3.5 参考PICC测试电路 参考 PICC电路图和元器件清单如图 A.13所示。DB35/T 1455-2014 24 图A.13 参考 PICC 测试电路图和元器件清单 A.4.3.6